Testkomponenten
Hardware- und Softwaretests können für folgende Komponenten durchgeführt werden:
- CPU – Diese Testkomponente identifiziert alle in einem System installierten Prozessoren, erfasst sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen und ermöglicht, den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Geräte zu verifizieren.
- Befehle- und Registertest – Dieser Test wendet Rechenoperationen auf alle allgemeinen Verzeichnisse an. Die Rechenoperationen werden mit allen Kombinationen der aufgelisteten Register durchgeführt. Ein Fehler deutet darauf hin, dass der Prozessor (CPU) nicht vollständig funktioniert und bei Anwendungen zu falschen Ergebnissen führen kann.
- Geschwindigkeitstest – Dieser Test überprüft, ob die CPU mit der richtigen Taktgeschwindigkeit arbeitet. Der Test stellt fest, mit welcher Taktgeschwindigkeit die CPU arbeitet und vergleicht diese mit dem erwarteten Wert. Dabei wird der Mittelwert aus drei Stichproben gebildet. Die tatsächliche Taktgeschwindigkeit wird mit Hilfe des modellspezifischen Registers für den Zeitstempelzähler berechnet. Die erwartete Geschwindigkeit wird aus dem SMBIOS gelesen. Zum Bestehen dieses Tests hätte der Prozessor (CPU) eine tatsächliche Taktgeschwindigkeit erzielen müssen, die der Nenngeschwindigkeit entspricht.
- Echtzeituhr-Test – Durch diesen Test wird sichergestellt, dass die Echtzeituhr die Uhrzeit des System-CMOS aktualisiert. Ein Fehlschlagen dieses Tests kann zu Fehlern bei zeitabhängigen Anwendungen führen. Zum Bestehen dieses Tests hätte die Echtzeituhr die Uhrzeit des System-CMOS korrekt aktualisieren müssen.
- Lüfter – Diese Testkomponente prüft den Status der Systemlüfter.
- Grafikkarte – Diese Testkomponente identifiziert alle in einem System installierten Grafikgeräte, erfasst sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen (beispielsweise die ASIC- und Monitortypen) und ermöglicht, den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Geräte zu verifizieren.
- Eingabegeräte – Diese Testkomponente identifiziert Tastatur, Maus und andere Eingabegeräte, die mit dem Gerät verbunden sind.
- Speicher – Diese Testkomponente identifiziert alle in einem System installierten Speichermodule, erfasst sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen und ermöglicht, den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Module zu verifizieren.
- Adress-/Datenbus-Test – Diese Tests verifizieren die Integrität der Adressbusse, die den/die Prozessor(en) mit den Speichermodulen verbinden. Dies wird überprüft, indem Daten an alle Adressen geschrieben werden, die nur ein Bit gesetzt (1) bzw. zurückgesetzt (0) haben, die Alternating Bits gesetzt haben, die nur hohe Bits oder nur niedrige Bits haben. In diesem Test sollen Adressleitungen gefunden werden, die entweder einen Erdschluss haben, mit einem Hochspannungssignal oder anderen Adressleitungen kurzgeschlossen sind oder veränderlich sind (nicht verbunden). Diese Tests allein reichen allerdings nicht aus, um einen schwerwiegenden Fehler festzustellen.
- Geräuschtest – Dieser Test überprüft die Speicherintegrität, indem das Gegenteil der aktuellen Testadresse an die aktuelle Testadresse geschrieben wird. Die aktuelle Testadresse wechselt zwischen dem Beginn und dem Ende des aktuellen Testblocks und erhöht und reduziert die Adresse, bis auf den gesamten Testblock zugegriffen wurde. Bei diesem Test soll nach Umstellungsproblemen gesucht werden, die entstehen, wenn die Leitungen schnell hintereinander von einem niedrigen Pegel auf einen hohen wechseln müssen und umgekehrt. Das negative Ergebnis dieses Tests weist auf ein fehlerhaftes DIMM hin.
- Speicherbit-Test – Dieser Test ähnelt einem Datenbus-Bit-Test und kann Folgendes ermitteln: Adressfehler, Stuck-at-Fehler, Umstellungsfehler, Verbindungsfehler und Linked-coupling-Fehler. Diese Fehler treten auf, wenn Speicherzellen innerhalb eines Bitzellen-Arrays die Funktionsweise von benachbarten Speicherzellen beeinflussen. In vielen Fällen können statische Tests diese Fehler nicht entdecken. Das negative Ergebnis dieses Tests weist auf ein fehlerhaftes DIMM hin.
- Zufallsadressen-/Cache-Test – Dieser Test überprüft die Speicherintegrität, indem über einen vorgegebenen Testbereich willkürliche Muster ausgeführt werden. Die Adressen, die für das Speichern der Muster verwendet werden, werden zufällig ausgewählt und normalisiert, um in den aktuellen Testblock eingefasst werden zu können. Durch diesen Test sollten periodisch auftretende Speicherprobleme gefunden werden, die durch bestimmte Temperaturen, variierende Taktgeschwindigkeiten, variierende Spannungen, die Signal-Zeitsteuerung, Herstellungsfehler, variierende Aktualisierungsraten und Abnutzung auftreten können. Dieser Test kann auch Speicherfehler erkennen, die von anderen statischen Tests unter Umständen nicht erkannt werden. Das negative Ergebnis dieses Tests weist auf ein fehlerhaftes DIMM hin.
- MEMBIST-Test – Für Systeme, die Fully Buffered DIMMs und MEMBIST-Test-Support im BIOS unterstützen, verifiziert dieser Test die Speicherintegrität, indem über einen vorgegebenen Testbereich willkürliche Muster ausgeführt werden. Dieser Test ist insofern einzigartig, als dass es sich hierbei um einen integrierten Selbsttest handelt, der vom Speicher-Controller ausgeführt wird. Durch diesen Test sollten periodisch auftretende Speicherprobleme gefunden werden, die durch bestimmte Temperaturen, variierende Taktgeschwindigkeiten, variierende Spannungen, die Signal-Zeitsteuerung, Herstellungsfehler, variierende Aktualisierungsraten und Abnutzung auftreten können. Dieser Test kann auch Speicherfehler erkennen, die von anderen statischen Tests unter Umständen nicht erkannt werden. Bei Ausführung dieses Tests wird das System neu gestartet. Außerdem werden Parameter an das BIOS übergeben, wodurch der Speicher-Controller zur Ausführung des Tests eingerichtet wird. Nach Beendigung speichert das BIOS sämtliche „Bestanden“- oder „Fehlgeschlagen“-Informationen im NVRAM- und SPD-Speicher der DIMMs. Nach dem erneuten Neustart gestattet Insight Diags der Speicher-Testkomponente die Verarbeitung der „Bestanden“- oder „Fehlgeschlagen“-Informationen. Das negative Ergebnis dieses Tests weist auf ein fehlerhaftes DIMM hin.
- Verschiedenes – Diese Testkomponente sammelt und enthält Informationen aus Computer-Bereichen wie Konfigurationsspeicher (CMOS), BIOS, Interrupt-Vektortabelle und Diagnosekomponenten.
- Modem – Diese Testkomponente identifiziert alle in einem System installierten Modems, erfasst sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen und ermöglicht, den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Geräte zu verifizieren.
- Parallelanschluss – Diese Testkomponente identifiziert alle in einem System installierten Parallelgeräte und erfasst sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen. Wenn der Parallelanschluss sachgerecht konfiguriert ist und dem Betriebssystem sämtliche Informationen zur Verfügung stehen, werden die zugehörigen DMA-, IRQ- und I/O- Anschlüsse gemeldet. Mit dieser Testkomponente kann außerdem der ordnungsgemäße Betrieb dieser Geräte verifiziert werden.
- PCI-Bus – Diese Testkomponente identifiziert die in einem System installierten PCI-Geräte und ermöglicht die Verifizierung des ordnungsgemäßen PCI I/O-Betriebs dieser Geräte.
- Rack – Diese Testkomponente sammelt und enthält Informationen zu den Komponenten der Blade--Infrastruktur, beispielsweise zum Rack und zum installierten Chassis. Die Informationen beinhalten Chassis-Typ, Produkt-ID, Hersteller-ID, Seriennummer, Temperatur der verschiedenen Bereiche im Rack, Status der im System installierten Lüfter, Firmware-Revision des Subsystems und mehr. Die Rack-Testkomponente bietet außerdem verschiedene Tests zum Verifizieren der Rack-Subsystem-Versionen, EPROM-Geräte und installierten Lüfter.
- Rib – Diese Testkomponente identifiziert alle in einem System installierten Remote Insight Boards und erfasst sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen. Remote Insight Board-Tests werden nur ausgeführt, wenn während der Erkennung Treiber installiert werden.
- Serieller Anschluss – Diese Testkomponente identifiziert alle in einem System installierten seriellen Geräte, erfasst sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen und ermöglicht, den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Geräte zu verifizieren.
- Speicher – Diese Testkomponente identifiziert die Speichergeräte, die über IDE, USB, SCSI oder über ein Fibre-Channel-Netzwerk mit einem System verbunden sind. Es werden folgende Geräte unterstützt:
- IDE-Festplatten
- Diskettenlaufwerke
- USB-Diskettenlaufwerke
- USB-CD-ROM-Laufwerke
- USB Drive Key
- SCSI-Festplatten
- SCSI-Bandlaufwerke
- SATA-Laufwerke
- SAS-Festplatten
- SCSI-Controller
- RAID-Controller
- SATA-Controller
- SAS-Controller
- Intelligente SCSI-Backplanes
- Intelligente externe Speicherboxen
- ...usw.
Controller können mit dem Host über PCI, I2C oder über einen seriellen Anschluss verbunden sein. Die Komponente erfasst außerdem sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen und ermöglicht, den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Geräte zu verifizieren.
Selbsttest bei SCSI- und IDE-Laufwerken: Die Offline-Selbsttests werden unter Anwendung der in der Firmware integrierten Testfunktionen selbstständig vom Laufwerk ausgeführt. Der schnelle Offline-Selbsttest führt eingeschränkte Tests und Grenzwertprüfungen durch, während der erweiterte Offline-Selbsttest auch eine vollständige Oberflächenanalyse ausführt.
- Systemmanagement – Diese Testkomponente identifiziert die in einem System installierten Hotplug LED, I2C, LCD, CMOS und ASM Systemmanagement-Geräte und ermöglicht, den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Geräte zu verifizieren.
- USB – Diese Testkomponente identifiziert alle in einem System installierten USB-Geräte, erfasst sämtliche zugehörigen Konfigurationsinformationen und ermöglicht, den ordnungsgemäßen Betrieb dieser Geräte zu verifizieren.
Eine Liste der für jede Testkomponente verfügbaren Tests sowie der Fehlercodes kann in der Menüleiste der Registerkarte „Hilfe“ unter den Menüoptionen „Testkomponente“ und „Fehlercodes“ abgerufen werden.