Composants de test
Les tests matériels et logiciels peuvent être effectués sur les composants suivants :
- CPU : ce composant de test identifie tous les processeurs installés sur un système, capture toutes les informations de configuration associées et permet de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
- Test d'instruction et de registre : ce test manipule tous les registres généraux à l'aide d'opérations arithmétiques. Ces opérations arithmétiques sont effectuées avec toutes les combinaisons des registres énumérés. Toute défaillance peut indiquer que le processeur (CPU) ne fonctionne pas correctement et pourrait donner des résultats incorrects dans les applications.
- Test de fréquence : ce test vérifie que le processeur fonctionne à la fréquence d'horloge correcte. Ce test détermine la fréquence d'horloge à laquelle le processeur fonctionne et la compare à celle attendue. Ce test prend prélève échantillons et fait une moyenne. La fréquence réelle est calculée à l'aide du MSR (registre spécifique au modèle) de l'horodateur. La fréquence attendue utilisée dans la comparaison est issue du SMBios. Pour réussir le test, le processeur doit renvoyer une valeur de fréquence réelle qui corresponde à la fréquence du processeur fournie par le MSR (registre spécifique au modèle) de l'horodateur.
- Test de l'horloge de temps réel : cette fonctionnalité garantit que l'horloge de temps réel met à jour l'heure CMOS du système. Toute défaillance pourrait entraîner des problèmes sur les applications qui dépendent de l'heure. Pour passer le test, l'horloge de temps réel doit avoir mis à jour l'heure CMOS avec précision.
- Ventilateurs : ce composant de test vérifie l'état des ventilateurs du système.
- Graphiques : ce composant de test identifie tous les périphériques graphiques installés sur un système, capture toute information de configuration associée, telle que le type de circuit ASIC et de moniteur et permet de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
- Périphérique d’entrée : ce composant de test identifie le clavier, la souris et autres périphériques d’entrée connectés au système.
- Mémoire : ce composant de test identifie tous les modules de mémoire installés sur un système, capture toutes les informations de configuration associées et permet de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
- Test d'adresse / Test de marche : ce test vérifie l'intégrité des bus d'adresse en connectant le(s) processeur(s) aux modules mémoire. Il consiste à écrire, à toutes les adresses possibles, des données dont un seul bit est à 1 ou à 0, ou dont tous les bits sont à 1 ou à zéro, ou encore en alternant les bits successifs. Ce test à pour but de détecter des lignes d'adresse en court-circuit avec la masse, avec un signal à haute tension ou avec d'autres lignes d'adresse, ou flottantes (déconnectées). Toutefois, ce test à lui seul ne peut indiquer une panne matérielle.
- Test de bruit : ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en écrivant l'adresse inverse de l'adresse testée à l'adresse en cours de test. Le test consiste à passer alternativement de l'adresse de début à l'adresse de fin de bloc, tout en incrémentant ou en décrémentant cette adresse jusqu'à ce que l'ensemble du bloc soit parcouru. Le test a pour but de vérifier l'absence de problème de transition sur le bus d'adresse et sur le bus de données en faisant passer leurs lignes de l'état haut à l'état bas aussi rapidement que possible. Un échec de ce test indique une défaillance du DIMM.
- Test de marche : ce test est semblable à un test de marche de bit, il permet de détecter les erreurs suivantes : erreurs d'adresse, erreurs de blocage sur une adresse, erreurs de transition, erreur de couplage et erreurs de couplage liées. Ces types d'erreurs se produisent lorsque des cellules mémoire, au sein d'une série de cellules, affectent le fonctionnement de cellules voisines. Dans de nombreux cas, les tests statiques ne détectent pas les erreurs de ce type. Un échec de ce test indique une défaillance du DIMM.
- Test d'adresse aléatoire/Test de la mémoire cache : ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en utilisant des combinaisons aléatoires dans une plage de tests donnée. Les adresses utilisées pour stocker les combinaisons sont sélectionnées de façon aléatoire, puis normalisées pour s'ajuster au bloc de test en cours. Ce test a pour but de détecter des problèmes intermittents causés par une température excessive, des fréquences d'horloge variables, une mauvaise synchronisation des signaux, des fluctuations de tension, des défauts de fabrication, un taux de régénération variable et un affaiblissement des signaux. Ce test permet également de détecter des erreurs de mémoire qui ne seraient pas détectés par des tests statiques. Un échec de ce test indique une défaillance du DIMM.
- Test MEMBIST - Pour les systèmes qui prennent en charge des mémoires DIMM entièrement bufférisé et le test MEMBIST dans BIOS, ce test vérifie l'intégrité de la mémoire en utilisant des combinaisons aléatoires dans une plage de tests donnée. Ce test est unique puisqu'il s'agit d'un auto-test intégré exécuté par le contrôleur de mémoire. Ce test a pour but de détecter des problèmes intermittents causés par une température excessive, des fréquences d'horloge variables, une mauvaise synchronisation des signaux, des fluctuations de tension, des défauts de fabrication, un taux de régénération variable et un affaiblissement des signaux. Ce test permet également de détecter des erreurs de mémoire qui ne seraient pas détectés par des tests statiques. Lorsque ce test est exécuté, le système redémarre et transfère les paramètres au BIOS, qui configure le contrôleur de mémoire pour qu'il l'exécute. Une fois cette opération terminée, le BIOS stocke toute information de réussite ou d'échec dans la mémoire NVRAM et SPD des modules DIMM. Après avoir redémarré à nouveau, Insight Diags permettra au composant de test de mémoire de traiter les informations de réussite ou d'échec. Un échec de ce test indique une défaillance du DIMM.
- Divers : ce composant de test rassemble et affiche les informations obtenues à partir de la mémoire de configuration de l'ordinateur (CMOS), les données BIOS, la table Interrupt Vector, ainsi que les informations des composants de diagnostic.
- Modem : ce composant de test identifie tous les modems installés sur un système, capture toutes les informations de configuration associées et permet de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
- Port parallèle : ce composant de test identifie les périphériques parallèles installés dans un système et capture les informations de configuration associées. Si le port parallèle est correctement configuré et que les informations sont disponibles pour le système d'exploitation, les ports DMA, IRQ et I/O associés sont signalés. Ce composant de test permet aussi de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
- Bus PCI : ce composant de test identifie tous les périphériques PCI installés dans un système et permet de vérifier le bon fonctionnement du bus PCI I/O avec les périphériques.
- Rack : ce composant de test regroupe et affiche des informations sur les composants de l'infrastructure de lames, par exemple les racks et le châssis installé. Ces informations incluent le type de châssis, l'ID de produit, l'ID de fabricant, le numéro de série, la température des différentes zones du rack, l'état des ventilateurs installés dans le système, les révisions des micrologiciels des sous-systèmes et bien davantage. Le composant de test de rack fournit aussi une kyrielle de tests pour vérifier les versions des sous-systèmes des racks, les périphériques EPROM et les ventilateurs installés.
- Rib : ce composant de test identifie les tableaux de contrôle à distance installés dans un système et capture toutes les informations de configuration associées. Le test des tableaux de contrôle à distance n'est effectué que si des pilotes sont installés pendant la détection.
- Port série : ce composant de test identifie tous les ports série installés dans un système, capture toutes les informations de configuration associées et permet de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
- Stockage : ce composant de test identifie les périphériques de stockage connectés à un système via IDE, USB, SCSI ou un réseau Fibre Channel- Dispositifs pris en charge :
- Disques durs IDE
- Lecteurs de disquettes
- Lecteur de disquette USB
- CD-ROM USB
- USB Drivekey
- Lecteurs de disque SCSI
- Lecteurs de bande SCSI
- Disques durs SATA
- Disques durs SAS
- Contrôleurs SCSI
- Contrôleurs RAID
- Contrôleur SATA
- Contrôleur SAS
- Fonds de panier SCSI intelligents
- Boîtiers de stockage externe intelligents
- ...etc
Les contrôleurs peuvent être connectés à l'hôte, via PCI, I2C ou un port série. Le composant capture aussi toute information de configuration associée et permet de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
Auto-test de l'interface SCSI et du disque IDE : Les auto-tests hors ligne sont exécutés par le disque lui-même à l'aide de fonctions de test intégrées dans le micrologiciel du disque. L'auto-test hors ligne rapide (Short Offline Self Test) exécute une version limitée des tests et une vérification des seuils, alors que l'auto-test hors ligne long (Extended Offline Self Test) exécute également une analyse de surface complète.
- Gestion du système : ce composant de test identifie les périphériques Hotplug LED, I2C, LCD, CMOS et de gestion des systèmes ASM installés dans un système et permet de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
- USB : ce composant de test identifie tous les périphériques USB installés sur un système, capture toutes les informations de configuration associées et permet de vérifier le bon fonctionnement de ces périphériques.
Une liste des tests disponibles pour chaque composant de test et une liste des codes d'erreur est disponible via le menu Composant de test et Codes d'erreur de la barre de menu de l'onglet Aide.